（産業技術総合研究所様開発製品）
誘電体共振器用マイクロ波表面抵抗測定プログラム
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特 徴 | |||
| １ | Circle fit法により、測定対象でない共振ピークとの重なりや、位相ずれにともなう共振波形のゆ がみを補正し、本来のＱ値を多点測定と共に精度よく測定することができます。 | |||
| 2 | 反射測定を同時に行うことにより、共振器の結合度をもとめ、無負荷Ｑ値を計算します。これにより、測定回路の校正が必要なくなり、再現性の高い測定が可能となります。 | |||
| 3 | 一連の測定はNational Instruments社のLabVIEW上でプログラム化され、測定値の計算処理はほぼ瞬時に行われます。測定結果である無負荷Ｑ値はほぼリアルタイムで制御用コンピュータに表示され、テキストファイルとしてデータは保存されます。なお、測定の律速となるのはネットワークアナライザの測定時間であり、特に本ソフトウェアでは通常の伝送測定に加えて反射測定も行うので測定には数秒の時間が掛かります。したがって、測定中の共振器の温度変化には注意が必要です。 | |||
| 4 | Ｑ値の温度依存性の測定から２共振器法を用いて超伝導薄膜の表面抵抗を計算する解析ソフトウェアを付属しています。 | |||
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付属ソフトウェア １) Ｑ値温度依存性測定ソフト AIST Q measure Ver.2 ２) 表面抵抗解析ソフト(２共振法) Calculate Rs Two Modes ３) 表面抵抗解析ソフト(基準薄膜使用) Calculate Rs Ref Film
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